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J-GLOBAL ID：200902116968698141   整理番号：95A0899497

電子衝撃イオン化条件下でのO-アシルオキシムの熱劣化

Thermal Degradation of O-Acyl Oximes under Electron Impact Ionization Conditions.

著者 (6件)： HORIYAMA S (Mukogawa Women’s Univ., Nishinomiya, JPN) ,  SUWA K (Mukogawa Women’s Univ., Nishinomiya, JPN) ,  YAMAKI M (Mukogawa Women’s Univ., Nishinomiya, JPN) ,  KATAOKA H (Mukogawa Women’s Univ., Nishinomiya, JPN) ,  KATAGI T (Mukogawa Women’s Univ., Nishinomiya, JPN) ,  TAKAYAMA M (Toho Univ., Chiba, JPN)
資料名： Rapid Communications in Mass Spectrometry  (Rapid Communications in Mass Spectrometry)
巻： 9  号： 11  ページ： 971-977  発行年： 1995年 
JST資料番号： T0695A  ISSN： 0951-4198  CODEN： RCMSEF  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 4′-ピペリジノ-アセトフェノンオキシムと9-フルオレニルメ...

シソーラス用語： 電子衝撃イオン化質量分析 ,...
準シソーラス用語： ピペリジン誘導体 ,...

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分類 (1件)： 有機化合物の物理分析  (CC03034A)

タイトルに関連する用語 (3件)： 電子衝撃 ,  イオン化 ,  熱劣化