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J-GLOBAL ID：200902117856350408   整理番号：93A0771280

損失性伝送線路系における周波数依存性複素誘電率の広帯域時間領域測定法

A broad band time domain technique for the measurement of the frequency dependent complex permittivity in lossy transmission line systems.
著者 (2件)：
LAPE K M

LAPE K M について

(Portland State Univ., Oregon)

Portland State Univ., Oregon について

, 
RAHAL-ARABI T

RAHAL-ARABI T について

(Intel Corp., Oregon)

Intel Corp., Oregon について


資料名：
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest  (IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest)

IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest について


巻： 1993  号： Vol 3  ページ： 1235-1238  発行年： 1993年 
JST資料番号： A0636A  ISSN： 0149-645X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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TDR(時間領域反射測定装置)を用いて伝送線路系の複素誘電率...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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伝送線路

伝送線路 について

,...
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分類 (2件)：
分類
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伝送回路素子一般 
(NC04010G)

伝送回路素子一般 について

,  通信測定一般 
(ND03000R)

通信測定一般 について

タイトルに関連する用語 (6件)：
タイトルに関連する用語
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損失

損失 について

, 
伝送線路

伝送線路 について

, 
周波数依存性

周波数依存性 について

, 
複素誘電率

複素誘電率 について

, 
広帯域

広帯域 について

, 
時間領域測定

時間領域測定 について


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