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J-GLOBAL ID：200902118518674652   整理番号：97A0428272

β-炭化けい素の積層欠陥の予測 X線回折法およびNMRによる研究

Prediction of Stacking Faults in β-Silicon Carbide: X-ray and NMR Studies.

著者 (4件)： TATEYAMA H (Kyushu National Industrial Res. Inst., Saga Prefecture, JPN) ,  NOMA H (Kyushu National Industrial Res. Inst., Saga Prefecture, JPN) ,  ADACHI Y (Kyushu National Industrial Res. Inst., Saga Prefecture, JPN) ,  KOMATSU M (Kyushu National Industrial Res. Inst., Saga Prefecture, JPN)
資料名： Chemistry of Materials  (Chemistry of Materials)
巻： 9  号： 3  ページ： 766-772  発行年： 1997年03月 
JST資料番号： T0893A  ISSN： 0897-4756  CODEN： CMATEX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 積層欠陥を考慮したマトリックス強度式を使ってβ-SiCの理論...

シソーラス用語： 炭化ケイ素 ,...

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分類 (3件)： セラミック・磁器の性質  (YC03030G) ,  半導体の格子欠陥  (BK12040Q) ,  その他の無機化合物のNMR  (BM07043Z)

タイトルに関連する用語 (6件)： 炭化けい素 ,  積層欠陥 ,  予測 ,  X線回折法 ,  NMR ,  研究