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J-GLOBAL ID:200902118782159227   整理番号:97A0953897

Si(111)-7×7超格子からの反射高エネルギー電子回折強度の温度依存性

Temperature dependence of reflection high-energy electron diffraction intensity from Si(111)-7×7 superlattice.
著者 (3件):
資料名:
巻: 15  号:ページ: 2569-2573  発行年: 1997年09月 
JST資料番号: C0789B  ISSN: 0734-2101  CODEN: JVTAD6  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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すれすれ入射角を変化させる磁気ディフレクタを備えたRHEED...
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半導体の表面構造 
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