文献
J-GLOBAL ID：200902118890811135   整理番号：02A0825388

超低スタンバイ応用のための自動選択多しきい値設計

Automated Selective Multi-Threshold Design For Ultra-Low Standby Applications.
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著者 (5件)：
USAMI K

USAMI K について

(Toshiba Corp. Semiconductor Co., Kawasaki, JPN)

Toshiba Corp. Semiconductor Co., Kawasaki, JPN について

, 
KAWABE N

KAWABE N について

(Toshiba Corp. Semiconductor Co., Kawasaki, JPN)

Toshiba Corp. Semiconductor Co., Kawasaki, JPN について

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KOIZUMI M

KOIZUMI M について

(Toshiba Corp. Semiconductor Co., Kawasaki, JPN)

Toshiba Corp. Semiconductor Co., Kawasaki, JPN について

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SETA K

SETA K について

(Toshiba Corp. Semiconductor Co., Kawasaki, JPN)

Toshiba Corp. Semiconductor Co., Kawasaki, JPN について

, 
FURUSAWA T

FURUSAWA T について

(Toshiba Microelectronics Corp., Kawasaki, JPN)

Toshiba Microelectronics Corp., Kawasaki, JPN について


資料名：
Proceedings of the International Symposium on Low Power Electronics and Design  (Proceedings of the International Symposium on Low Power Electronics and Design)

Proceedings of the International Symposium on Low Power Electronics and Design について


巻： 2002  ページ： 202-206  発行年： 2002年 
JST資料番号： W1317A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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半導体のプロセス技術が進むにつれ,MOS回路の漏れ電流を減少...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
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*MOS集積回路

MOS集積回路 について

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DSP【プロセッサ】

DSP【プロセッサ】 について

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分類 (2件)：
分類
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集積回路一般 
(NC03161C)

集積回路一般 について

,  固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

タイトルに関連する用語 (4件)：
タイトルに関連する用語
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応用

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, 
しきい値

しきい値 について

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設計

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