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J-GLOBAL ID：200902119526271989   整理番号：93A0658104

C-V法による半導体-半導体界面の評価 成長中断界面近傍のキャリアプロフィール

Characterization of semiconductor-semiconductor interfaces by C-V method. Carrier profiles around GI-interfaces.

著者 (2件)： 友沢秀征 (北大 工) ,  長谷川英機 (北大 工)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
巻： 40th  号： Pt 3  ページ： 1261  発行年： 1993年03月 
JST資料番号： Y0054A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (7件)： 界面 ,  評価 ,  成長 ,  中断 ,  界面近傍 ,  キャリア ,  プロフィール