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J-GLOBAL ID:200902119800544806   整理番号:00A0442368

ソレノイド形ピックアップコイルを持つECTプローブによるプリント回路基板の検査

Inspection of Printed-Circuit Board by ECT Probe with Solenoid Pickup Coil.
著者 (4件):
資料名:
巻: 24  号: 4-2  ページ: 839-842  発行年: 2000年04月15日 
JST資料番号: Z0944A  ISSN: 0285-0192  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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プリント回路基板(PCB)検査のための新しい渦電流検査(EC...
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分類 (2件):
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非破壊試験  ,  プリント回路 
引用文献 (5件):
  • 1) S. Yamada, M. Katou, M. Iwahara and F. P. Dawson : Eddy-Current Testing Probe Composed of Planar Coils, IEEE Trans, on Magnetics, Vol.31, No.6, pp.3185-3187 (1995).
  • 2) S. Yamada, H. Fujiki, M. Iwahara, S. C. Mukhopadhyay and F. P. Dawson : Investigation of Printed Wiring Board Testing By Using Planar Coil type ECT Probe, IEEE Trans, on Magnetics, Vol.22, No.5, 3376-3379 (1997).
  • 3) D. Kacprzak, T. Miyagoshi, S. Yamada and M. Iwahara : Investigation of Printed Wiring Board Testing By Using Planar Coil Type ECT Probe, Digest of INTERMAG 99, GR-04 (1999).
  • 4) M. Oka : A Detection of Backside Crack using Torational Magnetic Flux Sensor with Search Coils, IEEE Trans, on Magnetics, Vol.32, No.5, September (1996).
  • 5) S. Yamada, M. Katou, M. Iwahara and F. P. Dawson, Defect Images by Planar ECT Probe of Meander-mesh Coils, IEEE Trans, on Magnetics, Vol.32, No.5, pp.4956-4958, 1996.

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