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J-GLOBAL ID：200902120272259604   整理番号：02A0306735

弾性後方散乱一次電子を用いるエネルギー解析器(CMA)における絶対エネルギーキャリブレーション 繰り返し法

Absolute energy calibration in an energy analyser (CMA) using elastically backscattered primary electrons: iterative method.

著者 (5件)： GOTO K (Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN) ,  RAHMAN N N (Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN) ,  JIANG Y Z (Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN) ,  ASANO Y (Nagoya Inst. Technol., Nagoya, JPN) ,  SHIMIZU R (Osaka Inst. Technol., Hirakata, JPN)
資料名： Surface and Interface Analysis  (Surface and Interface Analysis)
巻： 33  号： 3  ページ： 245-251  発行年： 2002年03月 
JST資料番号： E0709A  ISSN： 0142-2421  CODEN： SIANDQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 改良した円筒鏡解析器(CMA)を用いてAuger電子解析器の...

シソーラス用語： 後方散乱 ,...
準シソーラス用語： 陰極 ,...

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分類 (1件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K)

タイトルに関連する用語 (7件)： 弾性 ,  後方散乱 ,  エネルギー解析 ,  CMA ,  エネルギー ,  キャリブレーション ,  法