X線の回折線広がりに及ぼす転位コントラストの影響 回折プロフィル解析の新しい方法

UNGAR T; BORBELY A

文献

J-GLOBAL ID：200902120562291374 整理番号：97A0046023

X線の回折線広がりに及ぼす転位コントラストの影響回折プロフィル解析の新しい方法

The effect of dislocation contrast on x-ray line broadening: A new approach to line profile analysis.

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巻： 69 号： 21 ページ： 3173-3175 発行年： 1996年11月18日
JST資料番号： H0613A ISSN： 0003-6951 CODEN： APPLAB 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：短報発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

超微粒Cu結晶のX線回折プロフィルを,装置による線広がりが無...

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金属の格子欠陥 , X線回折法

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