NAPHADE M R について
Univ. Illinois at Urbana Champaign, IL, USA について
MEHROTRA R について
Eastman Kodak Co., NY について
FERMAN A M について
Univ. Rochester, NY について
WARNICK J について
Eastman Kodak Co., NY について
HUANG T S について
Univ. Illinois at Urbana Champaign, IL, USA について
TEKALP A M について
Univ. Rochester, NY について
Proceedings. International Conference on Image Processing, 1998, Vol.1 について
画像検索 について
ショット について
パターン認識 について
図形・画像処理一般 について
多重 について
キュー について
高性能 について
ショット境界検出 について
アルゴリズム について