文献
J-GLOBAL ID：200902121741435210   整理番号：94A0005134

Strain relaxation and threading dislocation density in lattice-mismatched semiconductor systems.

著者 (3件)：
WEHMANN H-H

WEHMANN H-H について

(Technische Univ., Braunschweig, DEU)

Technische Univ., Braunschweig, DEU について

, 
TANG G-P

TANG G-P について

(Technische Univ., Braunschweig, DEU)

Technische Univ., Braunschweig, DEU について

, 
SCHLACHETZKI A

SCHLACHETZKI A について

(Technische Univ., Braunschweig, DEU)

Technische Univ., Braunschweig, DEU について


資料名：
Diffusion and Defect Data Part B. Solid State Phenomena  (Diffusion and Defect Data Part B. Solid State Phenomena)

Diffusion and Defect Data Part B. Solid State Phenomena について


巻： 32/33  ページ： 445-450  発行年： 1993年 
JST資料番号： T0583A  ISSN： 1012-0394  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： スイス (CHE)  言語： 英語 (EN)

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