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J-GLOBAL ID：200902121803825533   整理番号：95A0518261

バリスティック電子放出顕微鏡で観察した走査形トンネル顕微鏡におけるトンネル分布の原子スケールの変化

Atomic-Scale Variations of the Tunneling Distribution in a Scanning Tunneling Microscope Observed by Ballistic-Electron-Emission Microscopy.

著者 (3件)： SIRRINGHAUS H (Eidgenoessische Technische Hochsch. Hoenggerberg, Zuerich, CHE) ,  LEE E Y (Eidgenoessische Technische Hochsch. Hoenggerberg, Zuerich, CHE) ,  VON KAENEL H (Eidgenoessische Technische Hochsch. Hoenggerberg, Zuerich, CHE)
資料名： Physical Review Letters  (Physical Review Letters)
巻： 74  号： 20  ページ： 3999-4002  発行年： 1995年05月15日 
JST資料番号： H0070A  ISSN： 0031-9007  CODEN： PRLTAO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Si(100)と(111)上にエピタキシャルに成長させたCo...

シソーラス用語： バリスティック輸送 ,...
準シソーラス用語： バリスティック電子顕微鏡 ,...

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分類 (1件)： 半導体-金属接触  (BM03084G)

タイトルに関連する用語 (7件)： バリスティック電子放出顕微鏡 ,  観察 ,  走査形 ,  トンネル ,  顕微鏡 ,  分布 ,  原子スケール