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J-GLOBAL ID：200902122094643864   整理番号：02A0077742

AE法による結晶粒超微細化用ショットピーニング装置の高効率条件の決定

著者 (4件)： 渡辺智 (東京工大 大学院) ,  稲邑朋也 (東京工大 大学院) ,  高島和希 (東京工大 精密工研) ,  肥後矢吉 (東京工大 精密工研)
資料名： アコースティック・エミッション総合コンファレンス論文集
巻： 13th  ページ： 83-86  発行年： 2001年10月02日 
JST資料番号： S0968A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 金属材料の超微細結晶粒構造を作製する方法の一つとして,超音波...

シソーラス用語： *AE検査 ,...

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分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

タイトルに関連する用語 (5件)： AE ,  結晶粒 ,  微細化 ,  ショットピーニング ,  高効率