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J-GLOBAL ID：200902122407460774   整理番号：01A0998101

SECMを用いた不働態皮膜の局部破壊前駆過程の追跡

著者 (1件)： 伏見公志 (北大 大学院工学研究科)
資料名： 腐食防食シンポジウム資料  (腐食防食シンポジウム)
巻： 134th  ページ： 29-37  発行年： 2001年09月28日 
JST資料番号： F0732B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 走査電気化学顕微鏡(以後SECM)を用いた標記の測定例を紹介...

シソーラス用語： *電気化学的腐食試験 ,...
準シソーラス用語： 走査電気化学顕微鏡 ,...

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分類 (1件)： 腐食基礎理論,腐食試験  (WB03020Q)

タイトルに関連する用語 (4件)： 皮膜 ,  局部破壊 ,  過程 ,  追跡