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J-GLOBAL ID：200902123613005133   整理番号：97A0157090

スクアリリウムLB膜の減衰全反射特性と構造

Attenuated total reflection properties and structures in squarylium LB films.

著者 (7件)： KANEKO F (Niigata Univ., Niigata, JPN) ,  HONDA S (Niigata Univ., Niigata, JPN) ,  FUKAMI T (Niigata Univ., Niigata, JPN) ,  KATO K (Niigata Univ., Niigata, JPN) ,  WAKAMATSU T (Ibaraki National Coll. Technol., Hitachinaka, JPN) ,  SHINBO K (Niigata Univ., Niigata, JPN) ,  KOBAYASHI S (Niigata Univ., Niigata, JPN)
資料名： Thin Solid Films  (Thin Solid Films)
巻： 284/285  ページ： 417-419  発行年： 1996年09月15日 
JST資料番号： B0899A  ISSN： 0040-6090  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： レーザ光の入射角の関数としたATR特性をAg薄層上の標記SQ...

シソーラス用語： ATR分光法 ,...
準シソーラス用語： スクアリリウム ,...

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分類 (1件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L)

タイトルに関連する用語 (2件)： LB膜 ,  減衰全反射