KESHAVARZI A について
Intel Corp., NM について
Purdue Univ., IN について
HAWKINS C F について
Univ. New Mexico, NM について
Proceedings. International Test Conference について
漏れ電流 について
IDDQ について
集積回路一般 について
固体デバイス計測・試験・信頼性 について
低電力 について
ディープサブミクロン について
CMOS について
IC について
固有 について