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J-GLOBAL ID：200902124453050419   整理番号：00A0199268

光ファイバ通信システム用オプトエレクトロニクスの信頼性の歴史的概観と将来

Historical overview and future of optoelectronics reliability for optical fiber communication systems.
著者 (1件)：
FUKUDA M

FUKUDA M について

(NTT Electronics Corp., Kanagawa, JPN)

NTT Electronics Corp., Kanagawa, JPN について


資料名：
Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)

Microelectronics Reliability について


巻： 40  号： 1  ページ： 27-35  発行年： 2000年01月 
JST資料番号： C0530A  ISSN： 0026-2714  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)
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レーザダイオード,発光ダイオード,フォトダイオードなどのオプ...
シソーラス用語：
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*光通信

光通信 について

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分類 (3件)：
分類
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光通信方式・機器 
(ND10000B)

光通信方式・機器 について

,  光電デバイス一般 
(NC03081P)

光電デバイス一般 について

,  固体デバイス計測・試験・信頼性 
(NC03040G)

固体デバイス計測・試験・信頼性 について

タイトルに関連する用語 (3件)：
タイトルに関連する用語
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光ファイバ通信システム

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, 
オプトエレクトロニクス

オプトエレクトロニクス について

, 
歴史

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