微小円孔を有する電着銅薄膜による二軸応力検出法 第4報 円孔の統計的応力集中率と繰返し数の関係を利用した測定

北岡征一郎; 江上登; 長谷川純

文献

J-GLOBAL ID：200902125277999187 整理番号：93A0410445

微小円孔を有する電着銅薄膜による二軸応力検出法第4報円孔の統計的応力集中率と繰返し数の関係を利用した測定

Measurement of Biaxial Stress by an Electrodeposited Copper Foil with a Microcircular Hole. 4th Report. Measurement using the Relation between Statistical Stress Concentration Factor and Cyclic Number.

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資料名：
巻： 42nd ページ： 29-31 発行年： 1993年02月
JST資料番号： L0013A 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

銅めっき応力測定法では計測が不可能であった二軸応力状態となる...

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弾性力学一般

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微小円孔を有する電着銅薄膜による二軸応力検出法 第4報 円孔の統計的応力集中率と繰返し数の関係を利用した測定

微小円孔を有する電着銅薄膜による二軸応力検出法第4報円孔の統計的応力集中率と繰返し数の関係を利用した測定