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J-GLOBAL ID：200902125381582786   整理番号：98A0267725

縮退四波混合によるサファイア上GaNにおけるフォノン-励起子デフェージングの測定

Measurement of phonon-exciton dephasing rate in GaN on sapphire by degenerate four-wave mixing.

著者 (6件)： PAU S (Max-Planck-Inst. Festkoerperforsch., Stuttgart, DEU) ,  KUHL J (Max-Planck-Inst. Festkoerperforsch., Stuttgart, DEU) ,  SCHOLZ F (Univ. Stuttgart, Stuttgart, DEU) ,  HAERLE V (Univ. Stuttgart, Stuttgart, DEU) ,  KHAN M A (APA Optics Inc., Minnesota) ,  SUN C J (APA Optics Inc., Minnesota)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 72  号： 5  ページ： 557-559  発行年： 1998年02月02日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 出所の異なる二つの無ドープのサファイア上MOCVD六方晶Ga...

シソーラス用語： *縮退四波混合 ,...

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分類 (1件)： 非線形光学  (BD05000T)

タイトルに関連する用語 (6件)： 縮退四波混合 ,  サファイア ,  GaN ,  フォノン ,  励起子 ,  デフェージング