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J-GLOBAL ID：200902125632693477   整理番号：99A0258250

エッチピットの特性およびZnSe/(001)GaAsにおける相関のある欠陥

Characterization of Etch Pits and Correlated Defects in ZnSe/(001)GaAs.

著者 (3件)： TANAKA S (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  GOTO T (Nagoya Univ., Nagoya, JPN) ,  HIBINO M (Nagoya Univ., Nagoya, JPN)
資料名： Microscopy Research and Technique  (Microscopy Research and Technique)
巻： 43  号： 6  ページ： 518-519  発行年： 1998年12月15日 
JST資料番号： T0531A  ISSN： 1059-910X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (5件)： エッチピット ,  ZnSe ,  GaAs ,  相関 ,  欠陥