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J-GLOBAL ID：200902125827131651   整理番号：95A1034366

全反射減衰法による金属薄膜上のアラキジン酸カドミウム塩LB超薄膜の構造評価

A Measurement of Structures in LB Ultrathin Films of Arachidic Cadmium Salt on Metal Thin Films using Attenuated Total Reflection Method.

著者 (6件)： 金子双男 (新潟大) ,  本多章作 (新潟大) ,  若松孝 (茨城工高専) ,  新保一成 (新潟大) ,  加藤景三 (新潟大) ,  小林敏志 (新潟大)
資料名： 電気学会論文誌 A  (IEEJ Transactions on Fundamentals and Materials)
巻： 115  号： 11  ページ： 1137-1143  発行年： 1995年11月 
JST資料番号： S0808A  ISSN： 0385-4205  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 可視光を用いた角度掃引の全反射減衰(ATR)装置を構築し,こ...

シソーラス用語： Langmuir膜 ,...
準シソーラス用語： エイコサン酸

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分類 (1件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L)

引用文献 (15件)：

• Thin Solid Films. 1994, 243
• 金子. 有機絶縁薄膜の機能化-その現状と将来. 電気学会技報(II部). 1992, No. 406
• 森泉. 有機超薄膜作製・評価技術の最近の動向. 電気学会技報(II部). 1992, No. 420
• 金子. 分子エレクトロニクスが面白い!. 電気学会雑誌. 1994, 114.39
• 伊東. 有機電子材料. 電総研調査報告. 1980, 204号, 71

タイトルに関連する用語 (6件)： 全反射減衰法 ,  金属薄膜 ,  アラキジン酸カドミウム ,  塩 ,  超薄膜 ,  構造評価