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J-GLOBAL ID:200902125879561344   整理番号:00A0283129

金属-絶縁体-金属(Ti/TaOx/Ta)型薄膜ダイオードの電流-電圧特性と伝導率

Current-Voltage Characteristics and Conductivity of Metal-Insulator- Metal (Ti/TaOx/Ta) Type Thin-Film Diode.
著者 (3件):
資料名:
巻: 39  号: 2A  ページ: 657-661  発行年: 2000年02月15日 
JST資料番号: G0520B  ISSN: 0021-4922  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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Ti/TaOx/Ta素子を持つ実際の薄...
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引用文献 (23件):
  • 1) D. E. Castleberry: IEEE Trans. Electron Devices 26 (1979) 1123.
  • 2) D. G. Ast: Conf. Rec. 2nd Int. Display Research Conf., Cherry Hill, 1982 (IEEE, New York, 1982) p. 152.
  • 3) D. R. Baraff, R. Boynton, B. Gribbon, J. R. Long, B. K. Maclaurin and C. J. Miner: 1980 Society for Information Display Int. Symp. Dig. Tech. Pap., Florida, 1980 (Society for Information Display, Playa del Rey, 1980) p. 200.
  • 4) D. R. Baraff, J. R. Long, B. K. McLaurin, C. J. Miner and R. W. Streter: IEEE Trans. Electron Devices 28 (1981) 736.
  • 5) N. Ono, H. Aruga, T. Ushiki, K. Suzuki, T. Ushiyama, Y. Noda, T. Kamikawa, K. Kaneko and S. Morozumi: 1990 Society for Information Display Int. Symp. Dig. Tech. Pap., Las Vegas, 1990 (Society for Information Display, Playa del Rey, 1990) p. 518.
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