文献
J-GLOBAL ID：200902128760029988   整理番号：99A0614426

測定型原子間力顕微鏡による精確なトポグラフィック像

Accurate topographic images using a measuring atomic force microscope.
著者 (8件)：
GONDA S

GONDA S について

(National Res. Lab. Metrology, Tsukuba, JPN)

National Res. Lab. Metrology, Tsukuba, JPN について

, 
DOI T

DOI T について

(National Res. Lab. Metrology, Tsukuba, JPN)

National Res. Lab. Metrology, Tsukuba, JPN について

, 
KUROSAWA T

KUROSAWA T について

(National Res. Lab. Metrology, Tsukuba, JPN)

National Res. Lab. Metrology, Tsukuba, JPN について

, 
TANIMURA Y

TANIMURA Y について

(National Res. Lab. Metrology, Tsukuba, JPN)

National Res. Lab. Metrology, Tsukuba, JPN について

, 
HISATA N

HISATA N について

(Olympus Optical, Tokyo, JPN)

Olympus Optical, Tokyo, JPN について

, 
YAMAGISHI T

YAMAGISHI T について

(Olympus Optical, Tokyo, JPN)

Olympus Optical, Tokyo, JPN について

, 
FUJIMOTO H

FUJIMOTO H について

(Olympus Optical, Tokyo, JPN)

Olympus Optical, Tokyo, JPN について

, 
YUKAWA H

YUKAWA H について

(Olympus Optical, Tokyo, JPN)

Olympus Optical, Tokyo, JPN について


資料名：
Applied Surface Science  (Applied Surface Science)

Applied Surface Science について


巻： 144/145  ページ： 505-509  発行年： 1999年04月 
JST資料番号： B0707B  ISSN： 0169-4332  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
高分解能の三軸レーザ干渉計を備えた実時間測定用のAFMを構成...
シソーラス用語：
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ（有料）でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
*原子間力顕微鏡

原子間力顕微鏡 について

,...
   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=99A0614426&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=B0707B") }}
分類 (1件)：
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
顕微鏡法 
(BK01040E)

顕微鏡法 について

タイトルに関連する用語 (1件)：
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです
原子間力顕微鏡

原子間力顕微鏡 について


前のページに戻る

TOP

BOTTOM