文献
J-GLOBAL ID:200902129276694450 整理番号:98A0673931
表面分析による樹脂の評価 (1) POM樹脂
Evaluation of Resin by Surface Analysis. (1). POM Resin.
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{{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=98A0673931©=1") }}
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{{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=98A0673931&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=S0493A") }}
著者 (3件):
笹川薫
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来栖知恵
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中山敏郎
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資料名:
日本化学会講演予稿集 (日本化学会春季年会講演予稿集)
日本化学会講演予稿集 について
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巻:
74th
号:
1
ページ:
300
発行年:
1998年03月
JST資料番号:
S0493A
ISSN:
0285-7626
資料種別:
会議録 (C)
発行国:
日本 (JPN)
言語:
日本語 (JA)
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耐熱試験により劣化した樹脂をX線光電子分光法(XPS)と飛行...
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