高分子エレクトロルミネセンスデバイスにおける劣化過程

DO L-M; CHOI K-H; LEE H-M; HWANG D-H; JUNG S-D; SHIM H-K; ZYUNG T

文献

J-GLOBAL ID：200902130982505995 整理番号：98A0245084

高分子エレクトロルミネセンスデバイスにおける劣化過程

Degradation process in polymeric electroluminescent devices.

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著者 (7件)：

DO L-M

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(Electronics and Telecommunications Res. Inst., Taejon, KOR)

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CHOI K-H

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ZYUNG T

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資料名：

Synthetic Metals (Synthetic Metals)

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巻： 91 号： 1/3 ページ： 121-122 発行年： 1997年12月
JST資料番号： C0123B ISSN： 0379-6779 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：オランダ (NLD) 言語：英語 (EN)

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標題(EL)デバイスの初期劣化過程を調べるために,光ルミネセ...

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ITO【固溶体】

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