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J-GLOBAL ID：200902131737960454   整理番号：98A0553880

一般化偏光解析法による二軸伸長させたプラスチック膜の特性評価

Characterization of biaxially-stretched plastic films by generalized ellipsometry.

著者 (4件)： ELMAN J F (Eastman Kodak Co., NY, USA) ,  GREENER J (Eastman Kodak Co., NY, USA) ,  HERZINGER C M (J.A. Woollam Co., NE, USA) ,  JOHS B (J.A. Woollam Co., NE, USA)
資料名： Thin Solid Films  (Thin Solid Films)
巻： 313/314  ページ： 814-818  発行年： 1998年02月 
JST資料番号： B0899A  ISSN： 0040-6090  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 標記膜の光学定数と光学軸配向を決定する偏光解析法について記述...

シソーラス用語： *偏光解析法 ,...
準シソーラス用語： *テレフタル酸誘導体

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分類 (2件)： 高分子固体の物理的性質  (CG02024U) ,  偏光測定と偏光計  (BD07050K)

タイトルに関連する用語 (5件)： 一般化 ,  偏光解析法 ,  二軸 ,  プラスチック膜 ,  特性評価