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J-GLOBAL ID：200902132113172164   整理番号：95A0881693

偏光X線吸収測定によるBi2212系の電子構造研究

Electronic structure studies of the Bi2212 system by polarised X-ray absorption measurement.

著者 (9件)： SAINI N L (Univ. Rajasthan, Jaipur, IND) ,  LAW D S-L (Univ. Rajasthan, Jaipur, IND) ,  PUDNEY P (RUSTI, Cheshire, GBR) ,  SRIVASTAVA P (Univ. Rajasthan, Jaipur, IND) ,  MENOVSKY A (Univ. Amsterdam, Amsterdam, NLD) ,  FRANSE J J M (Univ. Amsterdam, Amsterdam, NLD) ,  OHKUBO H (Fukuoka Univ. Education, Fukuoka, JPN) ,  AKINAGA M (Fukuoka Univ. Education, Fukuoka, JPN) ,  GARG K B (Univ. Rajasthan, Jaipur, IND)
資料名： Physica C. Superconductivity and Its Applications  (Physica C. Superconductivity and Its Applications)
巻： 251  号： 1/2  ページ： 7-14  発行年： 1995年09月01日 
JST資料番号： T0580A  ISSN： 0921-4534  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 超伝導と常伝導状態における微細な電子構造を研究するために,高...

シソーラス用語： 高温超伝導体 ,...

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分類 (2件)： 酸化物系超伝導体の物性  (BM04023I) ,  X線スペクトル一般  (BM08101P)

タイトルに関連する用語 (5件)： 偏光 ,  X線吸収 ,  Bi2212 ,  電子構造 ,  研究