RUNKLE P について
Duke Univ., NC について
CARIN L について
Duke Univ., NC について
COUCHMAN L について
Naval Res. Lab., Washington, DC について
YODER T J について
SFA, Inc., MD について
BUCARO J A について
Naval Res. Lab., Washington, DC について
IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence について
特徴抽出 について
特徴量 について
パターン認識 について
システム・制御理論一般 について
波形 について
照合 について
追跡 について
隠れMarkovモデル について
マルチ について
標的検出 について