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J-GLOBAL ID：200902132912124733   整理番号：98A0013947

W7-ASにおけるマルチチャネルマイクロ波干渉計からの電子密度分布の再構成

Electron density profile reconstruction from multichannel microwave interferometer data at W7-AS.
著者 (2件)：
KOPONEN J P T

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(Max-Planck-Inst. Plasmaphysik, Garching, DEU)

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DUMBRAJS O

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(Helsinki Univ. Technol., Espoo, FIN)

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資料名：
Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)

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巻： 68  号： 11  ページ： 4038-4042  発行年： 1997年11月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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電子密度分布の時間変化を測定するために,W7-ASステラレー...
シソーラス用語：
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プラズマ診断 
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マイクロ波干渉計

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