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J-GLOBAL ID：200902133825408209   整理番号：01A0679094

バックルダイマがあるSi(001)再構成表面の走査型トンネル顕微鏡像の詳細な分析

Detailed analysis of scanning tunneling microscopy images of the Si(001) reconstructed surface with buckled dimers.

著者 (5件)： OKADA H (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  FUJIMOTO Y (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  ENDO K (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  HIROSE K (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  MORI Y (Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名： Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics  (Physical Review. B. Condensed Matter and Materials Physics)
巻： 63  号： 19  ページ： 195324.1-195324.7  発行年： 2001年05月15日 
JST資料番号： D0746A  ISSN： 1098-0121  CODEN： PRBMDO  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 清浄Si(001)表面の走査型トンネル顕微鏡(STM)像を解...

シソーラス用語： *ケイ素 ,...

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分類 (2件)： 半導体の表面構造  (BK15030A) ,  表面の電子構造  (BM02080J)

タイトルに関連する用語 (5件)： ダイマ ,  Si ,  再構成 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  分析