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J-GLOBAL ID:200902134385594494   整理番号:94A0408844

赤外外部反射法によるL膜・LB膜の構造評価

Structure Characterization of L and LB films by IR External Reflection Technique.
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巻: 42  号: 11  ページ: 4747-4749  発行年: 1993年09月 
JST資料番号: Z0703B  資料種別: 会議録 (C)
発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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