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J-GLOBAL ID：200902134407128166   整理番号：94A0895653

マルチルック偏光測定および干渉測定SAR画像の輝度及び位相の統計的性質

Intensity and Phase Statistics of Multilook Polarimetric and Interferometric SAR Imagery.

著者 (4件)： LEE J-S (Naval Research Lab., Washington, D.C.) ,  HOPPEL K W (Naval Research Lab., Washington, D.C.) ,  MANGO S A (Naval Research Lab., Washington, D.C.) ,  MILLER A R (George Washington Univ., Washington, D.C.)
資料名： IEEE Transactions on Geoscience and Remote Sensing  (IEEE Transactions on Geoscience and Remote Sensing)
巻： 32  号： 5  ページ： 1017-1028  発行年： 1994年09月 
JST資料番号： H0016B  ISSN： 0196-2892  CODEN： IGRSD2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： SARデータのマルチルック処理はスペックル低減やデータ圧縮用...

シソーラス用語： 偏光測定 ,...
準シソーラス用語： 散乱行列

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分類 (1件)： レーダ  (ND13010H)

タイトルに関連する用語 (7件)： マルチ ,  偏光測定 ,  干渉測定 ,  SAR画像 ,  輝度 ,  位相 ,  統計的性質