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J-GLOBAL ID：200902135282111351   整理番号：99A0830389

X線回折法による極微小鉱物の精密分析

Precise Analysis of a Very Small Mineral by an X-Ray Diffraction Method.

著者 (1件)： 中牟田義博 (九大 理)
資料名： 鉱物学雑誌  (Journal of the Mineralogical Society of Japan)
巻： 28  号： 3  ページ： 117-121  発行年： 1999年08月31日 
JST資料番号： G0124A  ISSN： 0454-1146  CODEN： KOBZAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 数十μm大の試料を用いてX線粉末回折パターンを得ることができ...

シソーラス用語： *X線回折 ,...
準シソーラス用語： Gandolfiカメラ ,...

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分類 (2件)： 鉱物学一般  (DE08010E) ,  鉱物・岩石・鉱石の物理分析  (CC03090Y)

引用文献 (15件)：

• 1) 中牟田義博(1993): Gandolfiカメラを用いた微小結晶の格子定数の測定.鉱物学雑誌, 22, 113-122.
• 2) Gandolfi, G.(1964): Metodo per ottenere uno «spettro di polveri» da un cristallo singolo di piccole dimensioni (fino a 30μ). Miner. Petrogr. Acta, 10, 149-156.
• 3) Gandolfi, G.(1967): Discussion upon methods to obtain X-ray «powder patterns» from a single crystal. Miner. Petrogr. Acta, 13, 67-74.
• 4) Klug, H. P. and Alexander, L. E.(1974): X-ray diffraction procedures. John Wiley and Sons, New York, pp. 271-418.
• 5) Hubbard, C. R., Swanson, H. E. and Mauer, F. A.(1975): A silicon powder diffraction standard reference material. J. Appl. Cryst., 8, 45-48.

タイトルに関連する用語 (5件)： X線回折法 ,  微小 ,  鉱物 ,  精密 ,  分析