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J-GLOBAL ID：200902135765609377   整理番号：99A0156910

超音波顕微鏡X-Zモード画像のフラクタル次元解析による表面近傍の塑性異方性評価

Evaluation of Plastic Anisotropy near Surface Through Fractal Dimensional Analysis of X-Z mode Image Measured by Scanning Acoustic Microscope.

著者 (6件)： 大森誠一 (北見工大) ,  小林道明 (北見工大) ,  青木大輔 (北見工大 大学院) ,  三浦節男 (北見工大) ,  山崎哲也 (北海道警) ,  石川潔 (日立建機)
資料名： 日本機械学会論文集 A編  (Transactions of the Japan Society of Mechanical Engineers. Series A)
巻： 65  号： 629  ページ： 93-99  発行年： 1999年01月 
JST資料番号： F0227B  ISSN： 0387-5008  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 超音波顕微鏡の測定においては通常Cモードでの材料表面における...

シソーラス用語： *超音波顕微鏡 ,...

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分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

引用文献 (11件)：

• 石川潔. 異方性音響レンズの開発と材料評価への応用. 1990年度精密工学会春期大会講演論文集. 1990, 1111-1112
• 石川潔. 収束型音響レンズによる材料評価. 第6回UMS研究会予稿集. 1993, 29-37
• 福岡秀和. 音弾性の基礎と応用. 1993, 174
• 高安秀樹. フラクタル. 1986, 30
• PEITGEN, H. O. フラクタル・イメージ. 1990, 53

タイトルに関連する用語 (6件)： 超音波顕微鏡 ,  フラクタル次元 ,  解析 ,  近傍 ,  塑性異方性 ,  評価