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J-GLOBAL ID：200902136588086837   整理番号：95A1003955

部分ランダム探索と適応型探索による半導体チップ画像テンプレートマッチング

Template Searching in a Semiconductor Chip Image using Partial Random Search and Adaptable Search.

著者 (1件)： 斉藤文彦 (立命館大)
資料名： 精密工学会誌  (Journal of the Japan Society for Precision Engineering)
巻： 61  号： 11  ページ： 1604-1608  発行年： 1995年11月 
JST資料番号： F0268A  ISSN： 0912-0289  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 半導体チップの位置抽出を正規化相関画像テンプレートマッチング...

シソーラス用語： 探索問題 ,...

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分類 (1件)： 固体デバイス材料  (NC03020K)

引用文献 (8件)：

• SILVER, W. M. Normalized Correlation Search in Alignment, Gauging, and Inspection. SPIE Vol. 755 Image Pattern Recognition : Algorithm Implementations. 1987, 23
• 尾上守夫. 画像処理ハンドブック. 1987, 303
• 加藤敦彦. グレ-スケ-ル画像処理の動向とその応用. 電子技術. 1990, 1990-12, 72
• 水谷栄二. グレ-スケ-ルパタ-ンマッチングを用いたFA用画像処理装置とその応用例. O plus E. 1991, No. 141, 141
• BARNEA, D. I. A Class of Algorithms for Fast Digital Image Registration. IEEE Trans. 1972, C-21,2, 179

タイトルに関連する用語 (4件)： ランダム探索 ,  探索 ,  半導体チップ ,  テンプレートマッチング