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J-GLOBAL ID：200902136890678433   整理番号：00A0569981

走査プローブ電界放出力顕微鏡を用いたダイヤモンド状炭素膜の電界放出研究

Field emission study of diamond-like carbon films with scanned-probe field-emission force microscopy.

著者 (3件)： INOUE T (Univ. California, California) ,  OGLETREE D F (Univ. California, California) ,  SALMERON M (Univ. California, California)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 76  号： 20  ページ： 2961-2963  発行年： 2000年05月15日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 陽極としての導電性チップを持つ走査力顕微鏡を用いて電界放出電...

シソーラス用語： 化学蒸着 ,...

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分類 (1件)： 熱電子放出,電界放出  (BM09020S)

タイトルに関連する用語 (6件)： 走査 ,  プローブ ,  電界放出 ,  力顕微鏡 ,  ダイヤモンド状炭素 ,  研究