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J-GLOBAL ID:200902137319057290   整理番号:93A0876691

Creation of 3D patterns in Si by focused Ga-ion beam and anisotropic wet chemical etching.

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資料名:
ページ: 599-604  発行年: 1993年 
JST資料番号: K19930494  ISBN: 1-55899-174-3  資料種別: 会議録 (C)
発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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