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J-GLOBAL ID：200902137640907280   整理番号：02A0429581

高分解能スピン偏極走査電子顕微鏡(スピンSEM)の開発

Development of a High-Resolution Spin-Polarized Scanning Electron Microscope (Spin SEM).

著者 (2件)： 孝橋照生 (日立 中研) ,  小池和幸 (アトムテクノロジー研究体)
資料名： 日本応用磁気学会誌  (Journal of the Magnetics Society of Japan)
巻： 26  号： 5  ページ： 784-787  発行年： 2002年05月01日 
JST資料番号： Z0944A  ISSN： 0285-0192  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： スピンSEMについて,新たに小型2次電子収集電極を設計し,ワ...

シソーラス用語： *高分解能 ,...
準シソーラス用語： スピンSEM ,...

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分類 (1件)： 磁性体測定技術・装置  (BM06030I)

引用文献 (13件)：

• SCHULTI, M. A. IEEE Trans. Magn. 2000, MAG-36, 2143
• KOIKE, K. Appl. Phys. Lett. 2001, 78, 784
• PRINZ, G. A. Science. 1998, 282, 1660
• ABELMANN, L. J. Magn. & Magn. Mater. 1998, 190, 135
• FISCHER, P. J. Phys. D. 1998, 31, 649

タイトルに関連する用語 (6件)： 高分解能 ,  スピン偏極 ,  走査電子顕微鏡 ,  スピン ,  SEM ,  開発