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J-GLOBAL ID：200902137785053629   整理番号：00A0281763

液晶ディスプレイ入門 第3回 アンカリング強度測定の原理と実際 強電場法を中心に

Priniciple and Implementation of Anchoring Strength Measurement: The Hign-electric-field Technique.

著者 (1件)： 横山浩 (電総研)
資料名： 液晶  (日本液晶学会誌)
巻： 4  号： 1  ページ： 63-72  発行年： 2000年01月25日 
JST資料番号： L3796A  ISSN： 1880-6449  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 液晶界面におけるアンカリング強度の標準的な測定法の一つである...

シソーラス用語： *液晶 ,...
準シソーラス用語： 強電場法 ,...

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分類 (1件)： 液晶一般  (BK03010L)

引用文献 (6件)：

• YOKOYAMA, H. Handbook of Liquid Crystal Research. 1997, Chap. 6
• 横山浩. EKISHO. 1999, 3, 25
• YOKOYAMA, H. Mol. Cryst. Liq. Cryst. 1988, 165, 265
• YOKOYAMA, H. J. Appl. Phys. 1985, 57, 4520
• YOKOYAMA, H. J. Appl. Phys. 1987, 61, 4501

タイトルに関連する用語 (4件)： 液晶ディスプレイ ,  アンカリング ,  原理 ,  強電場