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J-GLOBAL ID：200902138326823477   整理番号：93A0894180

In situ characterization and control of compound semiconductor interfaces.

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著者 (1件)：
HASEGAWA H

HASEGAWA H について

(Hokkaido Univ., Sapporo, JPN)

Hokkaido Univ., Sapporo, JPN について


資料名：
Philosophical Transactions of the Royal Society of London. Series A. Mathematical, Physical and Engineering Sciences  (Philosophical Transactions of the Royal Society of London. Series A. Mathematical, Physical and Engineering Sciences)

Philosophical Transactions of the Royal Society of London. Series A. Mathematical, Physical and Engineering Sciences について


巻： 344  号： 1673  ページ： 587-595  発行年： 1993年09月15日 
JST資料番号： D0317A  ISSN： 1364-503X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

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