漏れ全反射を用いた飛しょう高さの測定  最少二乗法による反射率の測定

MORI S; SUGAWARA H; TOKISUE H; KINOSHITA K

文献

J-GLOBAL ID：200902138337414528 整理番号：98A0980256

漏れ全反射を用いた飛しょう高さの測定最少二乗法による反射率の測定

Flying Height Measurement Using Frustrated Total Reflection: Determination of the Reflectivities by the Least-Squares Method.

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資料名：
巻： 34 号： 5, Pt.2 ページ： 3783-3785 発行年： 1998年09月
JST資料番号： A0339B ISSN： 0018-9464 CODEN： IEMGAQ 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

磁気ディスクのスライダの飛しょう高さを,漏れ全反射センサ(F...

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電子・磁気・光学記録

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