文献

J-GLOBAL ID：200902139129079312   整理番号：93A0745740

多方向測定による物体形状と表面反射特性の計測

Shape and Reflectance Parameter Measurement for 3-D Objects by Multiple Observation System.

著者 (3件)： 大槻正樹 (名古屋工大) ,  三浦淳 (名古屋工大) ,  佐藤幸男 (名古屋工大)
資料名： 電子情報通信学会論文誌 D-2  (IEICE Transactions on Information and Systems, Pt.2 (Japanese Edition))
巻： 76  号： 8  ページ： 1536-1543  発行年： 1993年08月 
JST資料番号： L0197A  ISSN： 0915-1923  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本論文では実物体の3次元形状と表面のテクスチャおよび反射率パ...

シソーラス用語： 形状測定 ,...

   続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=93A0745740&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=L0197A") }}

分類 (2件)： 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O) ,  光学的測定とその装置一般  (BD07010S)

引用文献 (7件)：

• SUENAGA, Y. A synchronized cylindrical data scanner and its application to 3D face data acquisiton. IAPR-MVA '90. 1990, 3407-3416
• IKEUCHI, K. Determining reflectance parameters using range and brightness image. Proc. 3rd Int. Conf. on Computer Vision. 1990, 12-20
• WATT, A. Fundamentals of three-dimensional computer graphics. 1989
• COOK, R. L. A reflectance model for computer graphics. Computer Graphics. 1982, 15,3, 307-316
• SATO, Y. Shape measurement of curved objects using multiple silit-ray projections. IEEE Trans. Pattern Anal. Machine Intell. 1982, PAMI-4,6, 641-646

タイトルに関連する用語 (4件)： 多方向 ,  物体 ,  反射特性 ,  計測