原型的バルクII-VI及びIII-V半導体の表面化学と化学センサ検出における意義

SEKER F; MEEKER K; KUECH T F; ELLIS A B

文献

J-GLOBAL ID：200902142374361164 整理番号：00A0744466

原型的バルクII-VI及びIII-V半導体の表面化学と化学センサ検出における意義

Surface Chemistry of Prototypical Bulk II-VI and III-V Semiconductors and Implications for Chemical Sensing.

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巻： 100 号： 7 ページ： 2505-2536 発行年： 2000年07月
JST資料番号： B0256A ISSN： 0009-2665 CODEN： CHREAY 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：文献レビュー発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

原型的II-VI及びIII-V半導体表面の化学反応性に対する...

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半導体結晶の電子構造 , 物理的手法を用いた吸着の研究 , 13-15族化合物を含まない半導体-半導体接合 , 計測機器一般 , 分析機器

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