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J-GLOBAL ID：200902143129807803   整理番号：99A0813708

産業用X線CTの動向 MeV領域工業用X線CT/DRの性能

Trend of Industrial X-Ray Computed Tomography. Performance of High Energy X-Ray CT/DR.

著者 (1件)： 出海滋 (日立)
資料名： 非破壊検査  (Journal of JSNDI)
巻： 48  号： 9  ページ： 574-578  発行年： 1999年09月01日 
JST資料番号： G0027A  ISSN： 0367-5866  CODEN： HIHKA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 最大の透過力を持つ数MeVから十数MeVの間のX線を用いた工...

シソーラス用語： *X線CT ,...
準シソーラス用語： 計算機トモグラフィー

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分類 (1件)： 非破壊試験  (HB02030F)

引用文献 (3件)：

• MIYAI, H. A High Energy X-Ray Computed tomography Using Silicon Semiconductor Detectors. 1996 Nuclear Science Symposium Conference Record. 1997, 2, 81-821
• MIYAI, H. Characteristics of a Silicon Detector for Industrial X-ray Computed Tomography. Nucl Sci. and Meth. A353, 97-100
• 北口博司. 化合物半導体(GaAs)放射線検出器の試作(2). 日本原子力学会「1998年秋の大会」. 1998, B42

タイトルに関連する用語 (5件)： 産業 ,  X線CT ,  動向 ,  MeV領域 ,  工業