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J-GLOBAL ID：200902143922333189   整理番号：01A0935375

TEMディスクサイズ小型パンチ試験による鋼電子ビーム溶接金属の延性-脆性遷移温度評価

著者 (4件)： GAI X-H (東北大 大学院工学研究科) ,  佐藤裕 (東北大 大学院工学研究科) ,  粉川博之 (東北大 大学院工学研究科) ,  市川和利 (新日鉄 接合研セ)
資料名： 溶接学会全国大会講演概要  (Preprints of the National Meeting of J.W.S.)
号： 69  ページ： 440-441  発行年： 2001年09月10日 
JST資料番号： F0641A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *電子ビーム溶接 ,...
準シソーラス用語： 小型パンチ試験

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分類 (2件)： 溶接部  (WC07100I) ,  材料試験  (HB02020U)

引用文献 (2件)：

• 蓋. 平成12年春季溶接学会講演概要. 2000, 66, 100
• 蓋. 平成12年秋季溶接学会講演概要. 2000, 67, 142

タイトルに関連する用語 (9件)： TEM ,  ディスク ,  サイズ ,  小型パンチ試験 ,  鋼 ,  電子ビーム溶接 ,  延性 ,  脆性遷移温度 ,  評価