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J-GLOBAL ID：200902144447236927   整理番号：99A0133411

走査電子顕微鏡(SEM)による織物欠点解析事例

Analysis of Textile Defects by Scanning Electron Microscope(SEM).

著者 (2件)： 中西源次 (石川県工試) ,  松本義隆 (石川県工試)
資料名： 石川県工業試験場研究報告  (Report of the Industrial Research Institute of Ishikawa)
号： 47  ページ： 83-88  発行年： 1998年12月 
JST資料番号： F0740A  ISSN： 0289-8934  CODEN： IKSHE3  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年,新合繊や複合繊維および加工糸等の開発技術が飛躍的に進歩...

シソーラス用語： *電子顕微鏡観察 ,...
準シソーラス用語： 織物欠点 ,...

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分類 (1件)： 繊維物性一般  (YM02010H)

タイトルに関連する用語 (5件)： 走査電子顕微鏡 ,  SEM ,  織物 ,  欠点 ,  解析