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J-GLOBAL ID：200902144510234751   整理番号：93A0904134

Ab initio XAFS and XANES standards.

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著者 (3件)：
REHR J J

REHR J J について

(Dep. Physics, WA)

Dep. Physics, WA について

, 
ZABINSKY S I

ZABINSKY S I について

(Dep. Physics, WA)

Dep. Physics, WA について

, 
ALBERS R C

ALBERS R C について

(Los Alamos National Lab., NM)

Los Alamos National Lab., NM について


資料名：
Applications of Synchrotron Radiation Techniques to Materials Science  (Applications of Synchrotron Radiation Techniques to Materials Science)

Applications of Synchrotron Radiation Techniques to Materials Science について


ページ： 3-8  発行年： 1993年 
JST資料番号： K19930545  ISBN： 1-55899-203-0  資料種別： 会議録 (C)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)
タイトルに関連する用語 (2件)：
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XAFS

XAFS について

, 
XANES

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