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J-GLOBAL ID：200902144680775323   整理番号：93A0505310

ポリイミドで不動態化したL-バンドMMICの表面に関係した故障機構

Surface related failure mechanisms in polyimide passivated L-band MMICs.

著者 (5件)： HALKIAS G (Univ. Maryland, MD) ,  CHRISTOU A (Univ. Maryland, MD) ,  HUANG K (Univ. Maryland, MD) ,  LI J (Univ. Maryland, MD) ,  PAPANICOLAOU N (Naval Research Lab., Washington, D.C.)
資料名： Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium  (Annual Proceedings. IEEE International Reliability Physics Symposium)
巻： 31st  ページ： 375-379  発行年： 1993年 
JST資料番号： A0631A  ISSN： 1541-7026  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 表記MMICを設計,試作し信頼性試験を行った。信頼性と故障機...

シソーラス用語： MMIC ,...

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分類 (1件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (5件)： ポリイミド ,  不動態化 ,  バンド ,  MMIC ,  故障