文献

J-GLOBAL ID：200902145081350205   整理番号：93A0186718

ナノプローブ電子線を用いた構造と物性の研究

Studies of Structures and Physical Properties by Using nm-sized Electron Probe.

著者 (1件)： 田中信夫 (名古屋大 工)
資料名： 日本金属学会会報  (Bulletin of the Japan Institute of Metals)
巻： 32  号： 1  ページ： 21-28  発行年： 1993年01月 
JST資料番号： F0163A  ISSN： 0021-4426  CODEN： NKZKAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： ナノプローブ高分解能電子顕微鏡法(TEM)による構造と物性を...

シソーラス用語： 構造解析 ,...
準シソーラス用語： ナノプローブ ,...

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分類 (1件)： 電子回折法  (BK01030T)

引用文献 (26件)：

• (1) T. Yanaka, A. Yonezawa, K. Oosawa, S. Suzuki, O. Nakamura and M. Watanabe: Proc. 41th Annual Meeting of Electron Microscopy Society of America,(1983). p.312.
• (2) 田中信夫: マイクロビームアナリシスハンドブック, 朝倉書店,(1985), p.199.
• (3) T. Tomita and Y. Harada: Proc. 11th Int. Cong. Electron Microscopy, Kyoto,(1986), p.727.
• (4) 田中信夫: 第5回分析電子顕微鏡討論会予稿集,(1989), p.13.
• (5) 富田雅人, 林孝好: 日本物理学会予稿集,(1990・春), Vol.2, p.503.

タイトルに関連する用語 (4件)： ナノプローブ ,  電子線 ,  物性 ,  研究