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J-GLOBAL ID：200902145354578921   整理番号：02A0853183

低導電性材料用SQUID-NDTシステム

著者 (4件)： 葛西直子 (産業技術総合研) ,  廿日出好 (早稲田大) ,  高島浩 (産業技術総合研) ,  石山敦士 (早稲田大)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
巻： 63rd  号： 1  ページ： 228  発行年： 2002年09月24日 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *電磁誘導検査 ,...

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分類 (2件)： Josephson接合・素子  (BM04043E) ,  ゴム・プラスチック材料試験  (HB03000F)

タイトルに関連する用語 (3件)： 導電性材料 ,  SQUID ,  NDT